【产品】测试频率为50/100MHz的3380VLSI测试系统3380,具备可同测1024个晶片的能力

2019-06-05 Chroma

为因应未来IC晶片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势,CHROMA以此发展方向提供新一代3380系列VLSI测试机台,包含3380D3380P、3380机型,根据不同的脚位数或同测能力(Parallel Test),提供需求与成本效益兼具的测试解决方案。

VLSI 测试系统 


此系列机型之一的VLSI测试系统3380,具有最高1280 I/O pins、256 VI、弹性化架构、以及完整选项功能板(ADDA/Hi-voltage DPS)等特色;可符合高同测的市场驱势,具备1024 I/O pin可同测1024个晶片的能力。除了独特的4-wire高密度IC电源(VI source) 外,弹性化可调整的架构还可提供Mini & Macro LED驱动IC、CMOS影像感测器(CIS)、及3D影像测试等解决方案;以利涵盖更广泛的IC测试功能与应用范围。


3380 VLSI测试系统可无缝接轨3380D (256pins) 与3380P(512pins),以因应更高的产能需求。3380系列VLSI测试系统无论在装机、稳定度、友善使用介面、及成本效益上,长期以来皆已于中国市场获得广泛印证。


3380 VLSI测试系统的主要特色:

· 50/100 MHz 测试频率

· 50/100 Mbps 数据速率

· 1024 I/O pins (最高 1280 I/O pins)

· 平行测试可达1024 sites

· 32/64/128 pattern 记忆体

· 每个通道16M捕获内存

· 多样化 VI 电源

· 弹性化硬体架构(可互换式 I/O, VI, ADDA)

· Real parallel trim/match 功能

· 时序频率测试单位 (TFMU)

· 高速时序测试单位 (HSTMU)

· 支援STDF工具

· 测试程式/pattern转换器(J750, D10, S50/100, E320, SC312,V7, TRI-6036等)

· AD/DA功能卡 (选配)

· SCAN 测试功能 (最高 2G M/chain) (选配)

· ALPG 测试功能可供记忆体IC用(选配)


· CRAFT C/C++ 程式语言

· 软件介面与3380P/3360P相同

· 人性化的 Windows 7作业环境


3380 VLSI测试系统的应用范围:

· MCU装置

· ADC/DAC混和讯号IC

· 逻辑IC

· ADDA

· ALPG

· Smart card

· Mini & Macro LED驱动IC

· CMOS影像感测器 (CIS)

· 电源IC (Class D IC)

· 消费性IC

· LED驱动IC

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本文由宝丁转载自Chroma,原文标题为:VLSI 测试系统 Model 3380,本站所有转载文章系出于传递更多信息之目的,且明确注明来源,不希望被转载的媒体或个人可与我们联系,我们将立即进行删除处理。

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