DS2172 BERT Interface to all Dallas Framers and Transceivers APPLICATION NOTE 334
发布时间：
2019-04-09
类型：
应用笔记或设计指南，设计参考、应用指南
品牌：
Maxim（美信）
型号：
DS21372; DS2172; DS2141; DS2143; DS2151; DS2153; DS2156; DS21Q41; DS21Q43; DS2152; DS2154; DS2155; DS21Q42; DS21Q44; DS21352; DS21354; DS21Q55; DS21FF42; DS21FF44; DS21552; DS21554; DS21455; DS21FT42; DS21FT44; DS21Q552; DS21Q554; DS21458; DS21Q352; DS21Q354
本应用笔记详细阐述了如何将Maxim的DS2172/DS21372比特错误率测试器（BERT）连接至Dallas Semiconductor家族的T1/E1帧器及单芯片收发器（SCT）。资料重点涵盖了接口电路的设计原理、配置寄存器的具体设置方法，以及如何利用BERT进行系统级测试，旨在为相关通信硬件的集成与验证提供技术指导。针对文中所述的Maxim及Dallas Semiconductor品牌器件，其在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该方案，用户可通过平台获取原厂授权的正品器件，相关产品支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足。同时，平台提供专职FAE团队支持选型、设计验证及调试，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
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| 数据手册 - 英文 |
DS2155 T1/E1/J1单芯片收发器
REV: 080607
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| 测试报告 - 英文 |
DS2172可靠性报告，版本A2
08/19/2004
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2156 T1/E1/J1单片收发器TDM/UTOPIA II接口勘误表
REV: 042903
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| 数据手册 - 英文 |
DS2156 T1/E1/J1 Single-Chip Transceiver TDM/UTOPIA II Interface
REV: 011606
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| 测试报告 - 英文 |
DS21372可靠性报告，版本A2
08/19/2004
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21455/DS21458勘误表
Rev: 042204
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| 数据手册 - 英文 |
DS21354/DS21554 3.3V/5V E1 Single-Chip Transceivers
REV: 021004
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
8/2/05
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LQFP包可靠性监测报告
04/27/2005
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
05/02/2006
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
7/20/2006
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2148/DS21Q48勘误表
Rev: 091202
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2148/DS21Q48勘误表
Rev: 112102
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| 数据手册 - 英文 |
DS21372 3.3V误码率测试仪（BERT）数据表
101000
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DS2156，A2（8“）Maxim集成产品的产品可靠性报告
11/7/2007
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| 数据手册 - 英文 |
DS2172误码率测试仪（BERT）数据表
101000
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| 测试报告 - 英文 |
DS2152，版本A2达拉斯半导体可靠性报告
Rev A2
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21352/DS21Q352勘误表
Rev: 031604
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DS21352/DS21Q352勘误表
Rev: 092905
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| 数据手册 - 英文 |
DS2143/DS2143Q E1控制器数据表
112099
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DS21Q43可靠性数据可靠性报告
Tuesday, December 18, 2001
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21354/DS21Q354勘误表
Rev: 092704
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21354/DS21Q354勘误表
Rev: 092704
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21354/DS21Q354勘误表
Rev: 031604
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| 数据手册 - 英文 |
DS2152增强型T1单芯片收发器
011706
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0.8μm工艺可靠性监测报告
07/28/2004
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| 测试报告 - 英文 |
0.8μm工艺可靠性监测报告
04/27/2005
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| 测试报告 - 英文 |
0.8μm工艺可靠性监测报告
11/03/2005
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0.8μm工艺可靠性监测报告
11/03/2005
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| 测试报告 - 英文 |
0.8μm工艺可靠性监测报告
1/30/06
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| 测试报告 - 英文 |
0.8μm工艺可靠性监测报告
05/02/2006
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0.8μm工艺可靠性监测报告
3/1/2007
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21348/DS21Q348勘误表
Rev: 112801
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21348/DS21Q348勘误表
Rev: 112102
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DS21348/DS21Q348勘误表
Rev: 092402
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DS2186传输线接口
2019/09/03
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3.3V DS21352 and 5V DS21552 T1 Single-Chip Transceivers
Revision 8-16-99
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DS2154 Enhanced E1 Single-Chip Transceiver
REV: 011706
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
DS2141、DS21Q41、DS21Q43 8-MHz系统时钟操作
本应用笔记介绍了如何设计一个8.192MHz的背板，该背板可同时连接以下四种帧器：DS21Q41四路T1帧器、DS21Q43 E1帧器、DS2141 T1控制器、DS2151 T1单片收发器（SCT）和DS2153 E1 SCT。DS2141、DS21Q41、DS21Q43、DS2151和DS2153的PCM信号可以连接到8MHz系统背板。通常，此应用用于将四个2.048MHz PCM流复用到单个8MHz PCM流上。为此，启用弹性存储器并将其置于2.048MHz SYSCLK模式。图1描述了一个生成单个RSYNC以供所有四个帧器使用的时序方案。每个帧器依次由8.192MHz时钟脉冲驱动，每个脉冲使弹性存储器输出1个DS0，从而产生字节交错8.192MHz PCM流。
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传统T1/E1 8MHz背板操作
本应用笔记介绍了如何使用Dallas Semiconductor/Maxim的SCTs和framer将四个PCM流复用到单一的8MHz系统背板中。讨论了不包含内部交织总线操作（IBO）模式的framer的要求，并推荐了包含IBO功能的DS2155、DS26528、DS26524、DS26522、DS26521、DS26519和DS26518等芯片。详细说明了T1或E1 PCM信号如何与8MHz系统背板接口，以及如何通过弹性存储器在2.048MHz SYSCLK模式下实现字节交织的8.192MHz PCM流。此外，还讨论了主时钟源、主时钟故障以及背板信息等相关内容。
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T1/E1成帧器初始化和编程应用说明342
本应用笔记详细介绍了Maxim T1/E1帧器的初始化和编程过程。内容包括了DS2155、DS21Q55和DS2156等型号的自动初始化，以及不同型号的特定初始化步骤，如DS2141、DS21Q41、DS21Q42、DS2143、DS21Q43、DS21Q44、DS2151、DS2152、DS2153、DS2154、DS21FF/FT42、DS21FF/FT44、DS21x52和DS21x54等。此外，还包括了特殊测试模式和功能的寄存器说明，以及如何处理无TCLK情况下的初始化。
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工程期刊卷二：网络接口DS2155单片收发信机/币形锂电池二次保护电路设计与应用展望
本资料主要介绍了DS2155单芯片收发器在网络接口和电路设计方面的内容，包括其作为T1/E1设备接口的传统电路设计，以及针对纵向（共模）浪涌和金属浪涌的二次电压保护设计。资料还详细讨论了接收和发送接口的设计，包括匹配阻抗、过压保护和浪涌抑制电路。此外，资料还涉及了锂硬币电池的应用寿命预测，以及影响集成电路（IC）电池供电寿命的主要因素。
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Engineering Journal 第三期:数控电位器/电阻与激光驱动器的连接/库仑计量应用中的频率欠采样
这份资料主要涉及了元器件行业中的多种产品和技术，包括电池测试器、GPS模块、ADC转换器、激光驱动器、调制器、功率放大器等。资料详细介绍了这些元器件的原理、功能、应用以及相关的技术参数。此外，还涉及了电池燃料计量、实时时钟、接口设计等内容，并提供了相关产品的品牌和型号。
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DS2141A、DS2143、DS2151、DS2153与非多路总线接口
本应用笔记介绍了如何将非复用总线处理器与Dallas Semiconductor的T1或E1帧器和单芯片收发器（SCTs）DS2141A、DS2143、DS2151或DS2153进行接口连接。这些设备最初设计用于与使用复用总线配置的处理器接口。通过添加外部逻辑和软件的微小修改，任何非复用处理器都可以连接到这些设备。笔记中包含连接复用地址和数据总线到处理器独立地址和数据总线的图示，以及必要的Dallas Semiconductor总线时序图。此外，还提供了编写软件的信息，以实现总线接口对Dallas Semiconductor设备的读写操作。
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DS2141A、DS2143三通道拖放和插入
本应用笔记306介绍了使用Dallas Semiconductor/Maxim DS2141A T1帧或DS2143 E1帧实现三通道丢包和插入应用的设计要求。内容包括：循环定时应用示例、丢包通道与插入通道占用相同时隙、DS2141A/43/51/53中的空闲寄存器可用于填充未使用的通道、DS2151和DS2153设备上集成了线路接口功能、使用延迟调整时钟以补偿生成突发时钟信号的延迟、通过允许RCHCLK信号驱动到计数器并解码，可以添加更多通道。
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DS2141A、DS2143、DS2151和DS2153与SGS汤姆森M3488接口
本应用笔记详细介绍了如何将DS2141A、DS2143、DS2151和DS2153与SGS-Thomson M3488进行接口连接。内容包括接口波形和时序图，以及相关配置和注意事项。
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步升型电源在为负载供电的同时也为电池充电解决方案
本文档展示了一种基于IC1和IC2的电子设计示例，涉及充电控制、电压检测和放电速率监测等功能。设计包括充电/断电控制、快速/涓流充电模式选择、电压和放电速率的模拟/数字转换等。电路图包含多个电阻、电容、二极管和晶体管等元件，以及MAX472和MAX1771等集成电路。
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每通道环回DS2141A、DS2142、DS2151、DS2153
本应用笔记314详细介绍了如何使用Dallas Semiconductor/Maxim的DS2141A、DS2142、DS2151或DS2153实现通道级回环应用的设计要求。文档中涵盖了TCHBLK信号控制2:1多路复用器以选择回环通道的细节，以及在DS2151和DS2153应用中，线路接口集成在设备板上的信息。
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DS2141A、DS2143、DS2151、DS2153与西门子PEB2045的接口
本应用笔记详细介绍了如何将Maxim的DS2141A、DS2143、DS2151和DS2153与Siemens的PEB2045进行接口连接。内容包括接口波形和时序图，以及操作模式、弹性存储器设置和开关配置等关键信息。
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在BITS/SSU应用中使用RCLK注370
本文讨论了如何在BITS/SSU应用中使用从T1或E1中恢复的时钟。BITS是网络同步中广泛使用的时钟类型，用于网络内所有需要同步的部署设备。本文介绍了同步标准，包括ITU-T、ANSI、ETSI和Telcordia的要求，以及时钟的分层结构和不同等级的准确性。文章还详细说明了BITS/SSU的工作原理，包括时钟的锁定、自由运行和保持状态。此外，本文以DS2155为例，说明了如何使用该芯片恢复时钟并传输BITS到其他设备，并介绍了如何使用DS2155的HDLC控制器传输和接收同步状态消息（SSM）。最后，文章总结了BITS和SSU方法在网络同步中的应用，并强调了使用Dallas Semiconductor的设备在时钟分配应用中的优势。
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