DS2172 Simplified Receiver Operation APPLICATION NOTE 332
发布时间：
2019-04-09
类型：
应用笔记或设计指南，设计参考、应用指南
品牌：
Maxim（美信）
型号：
DS2172
本应用笔记详细介绍了Maxim公司DS2172比特错误率测试仪（BERT）在重复模式下的简化接收器操作。该资料深入阐述了接收模式寄存器的配置方法，并对接收电路禁用、时钟显示功能进行了说明。同时，文中重点解析了错误比特数统计以及连续匹配数等关键技术指标，旨在帮助用户优化测试流程并提升测量精度。基于该方案，Maxim在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。针对文中所述器件，平台提供专职FAE团队支持选型、设计验证及调试，相关产品支持单件起订、在线下单、样品申请、批量询价及库存充足，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
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资料平台
| 数据手册 - 英文 |
DS2172误码率测试仪（BERT）数据表
101000
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| 测试报告 - 英文 |
DS2172可靠性报告，版本A2
08/19/2004
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2148/DS21Q48勘误表
Rev: 112102
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2148/DS21Q48勘误表
Rev: 091202
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| 数据手册 - 英文 |
DS2176 T1接收缓冲区
091599
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| 测试报告 - 英文 |
DS2175，D1版达拉斯半导体可靠性报告
08/20/2004
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| 数据手册 - 英文 |
DS2174 EBERT
2019/07/21
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| 测试报告 - 英文 |
DS2176，修订版D4达拉斯半导体可靠性报告
08/20/2004
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21354/DS21Q354勘误表
Rev: 092704
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21354/DS21Q354勘误表
Rev: 031604
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21354/DS21Q354勘误表
Rev: 092704
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| 数据手册 - 英文 |
DS2175 T1/CEPT弹性存储器数据表
092099
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| 测试报告 - 英文 |
达拉斯半导体可靠性报告
01/31/2003
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| 测试报告 - 英文 |
达拉斯半导体可靠性报告
2019/07/21
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| 数据手册 - 英文 |
DS26401八路t1/E1/J1成帧器
REV: 072403
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| 测试报告 - 英文 |
2.0μm工艺达拉斯半导体可靠性监测报告
07/28/2004
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21352/DS21Q352勘误表
Rev: 031604
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21352/DS21Q352勘误表
Rev: 092905
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| 数据手册 - 英文 |
DS21FT42/DS21FF42 4 x 3 12-Channel T1 Framer 4 x 4 16-Channel T1 Framer
080702
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| 测试报告 - 英文 |
0.8μm工艺可靠性监测报告
07/28/2004
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| 测试报告 - 英文 |
0.8μm工艺可靠性监测报告
04/27/2005
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| 测试报告 - 英文 |
0.8μm工艺可靠性监测报告
11/03/2005
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| 测试报告 - 英文 |
0.8μm工艺可靠性监测报告
11/03/2005
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| 测试报告 - 英文 |
0.8μm工艺可靠性监测报告
1/30/06
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| 测试报告 - 英文 |
0.8μm工艺可靠性监测报告
05/02/2006
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| 测试报告 - 英文 |
0.8μm工艺可靠性监测报告
3/1/2007
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| 数据手册 - 英文 |
DS21FT44/DS21FF44 4 x 3 12-Channel E1 Frame 4 x 4 16-Channel E1 Frame
2019/02/07
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| 数据手册 - 英文 |
DS21Q44 Enhanced Quad E1 Framer
2019/12/03
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21455/DS21458勘误表
Rev: 042204
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| 数据手册 - 英文 |
DS21Q59 E1四通道收发器
REV: 090104
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| 测试报告 - 英文 |
达拉斯半导体可靠性监测报告
7/20/2007
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21348/DS21Q348勘误表
Rev: 112801
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21348/DS21Q348勘误表
Rev: 112102
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21348/DS21Q348勘误表
Rev: 092402
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| 数据手册 - 英文 |
DS21Q552/DS21Q554 DALLAS SEMICONDUCTOR
December 29, 1998
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| 测试报告 - 英文 |
0.8μm工艺达拉斯半导体可靠性监测报告
11/8/04
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| 测试报告 - 英文 |
0.8μm工艺达拉斯半导体可靠性监测报告
1/20/05
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| 测试报告 - 英文 |
0.8μm工艺达拉斯半导体可靠性监测报告
3/12/2007
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DS21FT40 4 x 3 12信道e1成帧器
2019/09/06
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
DS2155内部编程
本应用笔记详细介绍了如何使用 Dallas Semiconductor DS2155 单芯片收发器（SCT）内部的比特错误率测试（BERT）控制器。内容包括如何配置BERT、选择测试模式、执行比特错误率测试以及读取测试结果。笔记提供了编程BERT的步骤和所需设置的详细说明，旨在帮助设计者在目标系统中实现必要的比特错误率测试。
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DS2172模式同步应用说明333
本应用笔记详细介绍了DS2172 BERT的图案同步操作。DS2172能够生成长达32位的重复图案，其同步器在此模式下的操作与伪随机图案模式不同。在重复图案模式下，接收器寻找与传输图案长度相同或其倍数的重复图案，不验证与传输图案的匹配。一旦找到相同长度的图案，即宣布同步，并计算该图案中的任何偏差，而不是传输图案中的偏差，作为位错误。接收到的全零或全一图案模拟任何长度的图案，DS2172会同步到它。用户需要检查接收到的图案寄存器以验证接收到的图案是否正确。图案寄存器中的图案可能比图案设置寄存器中的图案偏移一个或多个位置。图1中的流程图描述了验证接收到的图案与传输图案相同的基本算法。此外，状态寄存器中的接收全零和接收全一指示器可以用来验证图案同步。用户应在同步后始终检查状态寄存器，以确保系统按预期运行。
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接口用户设备和DST1E1DK SCT设计工具包
本应用笔记介绍了如何通过扩展端口或地址/数据总线将用户定义的设备或开发板与DST1E1DK SCT设计套件连接。DST1E1DK开发板由Dallas Semiconductor设计，用于简化用户对单芯片收发器（SCT）的测试和原型设计。该板具有8051处理器、板载EPROM、用于测试不同SCT的插座、DS2172比特错误率测试器（BERT）以及原型区域和扩展端口。重点介绍了如何使用扩展端口来扩展开发板功能，包括测试用户定义的设备或完整板，提供几乎无限的测试灵活性。此外，还讨论了如何修改DEF文件以定义用户添加的DUT或板卡的内存映射。
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步升型电源在为负载供电的同时也为电池充电解决方案
本文档展示了一种基于IC1和IC2的电子设计示例，涉及充电控制、电压检测和放电速率监测等功能。设计包括充电/断电控制、快速/涓流充电模式选择、电压和放电速率的模拟/数字转换等。电路图包含多个电阻、电容、二极管和晶体管等元件，以及MAX472和MAX1771等集成电路。
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DS314x系列DS3/E3成帧器误码率测试应用说明2706
本应用笔记介绍了如何使用Maxim的DS2174增强型误码率测试器（BERT）与DS314x系列DS3/E3帧同步器进行连接，并使用ITU O.151模式在无间隙时钟模式下进行误码率测试。内容涵盖了DS2174 BERT和DS314x帧同步器的配置、同步和位测试功能，以及如何实现双向同步。
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DS2172 BERT接口到所有达拉斯成帧器和收发器应用说明334
本应用笔记介绍了如何将Maxim的DS2172/DS21372比特错误率测试器（BERT）连接到Dallas Semiconductor家族的T1/E1帧器及单芯片收发器（SCT）。内容涵盖了接口电路设计、配置寄存器设置以及如何通过BERT进行系统测试。
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DS2151特殊模式应用说明329
本资料为Maxim公司发布的《DS2151 T1单芯片收发器特殊模式应用笔记》，主要介绍了DS2151 T1单芯片收发器（SCT）的所有特殊模式及其配置方法。包括3态输出模式、帧与LIU之间传输侧访问模式、发送接收双极性数据流截取模式、异步弹性存储操作模式、LIU旁路模式等。此外，还提到了相关部件DS2175的介绍和应用。
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DS2153特殊模式应用说明330
本应用笔记330介绍了如何通过设置特定寄存器来使用E1收发器的特殊模式。包括三种状态输出、允许在帧和LIU之间进行传输侧访问、截取发送和接收的双极性数据流、允许发送和接收背板时钟分离以及LIU旁路等特殊模式。每种模式都详细说明了如何启用和配置，以及它们在特定应用中的用途。
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MAXIM电信常见问题
本资料为Maxim公司关于电信设备常见问题的FAQ，涵盖T1、E1等通信技术的基本概念、设备操作、帧/单芯片收发器、线路接口、BERT、HDLC、设计套件和TDM-over-Packet等方面的问题和解答。内容涉及T1和E1的区别、帧结构、信号方式、设备初始化、软件支持、常见问题及解决方案等。
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MAXIM电信常见问题
本资料为Maxim公司关于电信设备常见问题的FAQs，涵盖T1/E1通信设备的使用、操作、设计等方面。内容包括T1/E1技术差异、设备操作、帧/单芯片收发器、线路接口、BERT、HDLC、设计套件、TDM-over-Packet等主题，旨在帮助用户解决在使用Maxim电信设备时遇到的问题。
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连接到分数T1和E1应用注释309
本应用笔记介绍了使用Dallas Semiconductor/Maxim Communications Products的T1/E1单芯片收发器（SCT）和T1/E1帧同步器设计分数T1/E1电路的示例。内容涵盖分数T1/E1接口的配置、电路设计以及相关产品信息。
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