0.8 μm Process Dallas Semiconductor RELIABILITY MONITOR REPORT
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■使用此过程的设备的计算故障率为：
●故障率：
●MTTF（年）：78575
●配合：1.5
■用于计算该故障率的参数如下：
●Cf:60%
●Ea:0.7
●B： 0
●Tu:25°C
●Vu:5.5伏
■可靠性数据如下。A该数据的开头是过程信息。下一节是每个应力的详细可靠性数据。可靠性数据部分包括可用的最新数据。本报告涵盖了2003年10月1日至2004年9月30日之间的数据
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