Techniques for Proper and Efficient Characterization, Validation, and Reliability Testing of Power Semiconductor Devices
发布时间：
2018-03-19
类型：
应用及方案，参考设计、解决方案、应用指南
品牌：
TEKTRONIX
型号：
2290; 2600B; 2651A; 2657A; 2636B; 3706A; 707B
资料平台
| 数据手册 - 英文 |
2657A高功率System SourceMeter®SMU仪器
2021/07/05
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| 测试报告 - 英文 |
综合测试系统
2017/12/21
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| 技术文档 - 中文 |
学会克服高亮度LED的电气测量挑战
051513
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| 数据手册 - 中文 |
源测量单元仪器新兴研发应用的工具选择
2014/4/7
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| 测试报告 - 英文 |
了解功率转换效率测试的基本工具和技术
2017/12/22
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| 数据手册 - 英文 |
如何选择和应用源/测量仪器（源表）
2.14.13
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| 测试报告 - 英文 |
触摸，测试，发明®…与新一代电流和电压源/测量仪器从凯斯利！
2017/12/22
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| 数据手册 - 英文 |
ACS基础版半导体元件和分立器件参数测试软件数据表
2020/03/28
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| 测试报告 - 英文 |
获得突破性的能力和无与伦比的性能特点和测试高功率，大电流电子产品
2017/12/21
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| 技术文档 - 中文 |
使用 2600B 系統 SourceMeter SMU 仪器简化 FET 测试
2016/10/14
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| 数据手册 - 英文 |
S540功率半导体测试系统规范
Rev. A
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| 测试报告 - 英文 |
先进的科学研究，尖端的测试测量
8 JUNE 2016
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| 技术文档 - 英文 |
比以往任何时候都更全面、更实惠的测量工具。
2017/12/29
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| 数据手册 - 英文 |
2651A 50 A，高功率System SourceMeter®SMU仪器
Rev. 02.2018
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2651A 50 A，高功率System SourceMeter®SMU仪器
061121
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| 测试报告 - 英文 |
了解当今汽车的功率测试应用
17 March 2014
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| 数据手册 - 英文 |
型号4299-6全机架单机组
Rev. D
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| 测试报告 - 英文 |
新的半测试应用要求更高的吞吐量和最大的低电流性能？是时候要求新的高速交换行业标准了。
2017/12/21
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| 数据手册 - 英文 |
S540功率半导体测试系统数据表
2017/12/26
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| 测试报告 - 中文 |
如何搭建高性能开关应用指南应用于自动化测试
11.11.13
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| 技术文档 - 英文 |
了解如何解决当今半导体器件特性化的挑战。
10.13
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| 数据手册 - 中文 |
系统SourceMeter® SMU仪器
2014/10/30
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| 测试报告 - 英文 |
探索材料科学或设备开发的边界？学习确保电气测量精度的最新技术
9.13
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2600B系统SourceMeter®SMU仪器
2017/12/21
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2600B System SourceMeter®SMU仪器规格书
2021/8/28
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| 数据手册 - 英文 |
2600B System SourceMeter®SMU仪器规格书
030321
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2600B System SourceMeter®SMU仪器规格书
112718
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| 数据手册 - 英文 |
CA-558型3针联锁连接器电缆
Rev. A
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| 技术文档 - 英文 |
如何选择和使用源计量单位仪器
2017/12/21
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| 数据手册 - 英文 |
2600B-PM-1型200 V保护模块，带1 A夹钳
2015/6/3
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2600B-PM-1型200 V保护模块，带1 A夹钳
April 2015
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2657A型大功率系统SourceMeter®仪器规范
Rev. B
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
S540功率半导体测试系统诊断和验证手册
本资料为Keithley Instruments公司S540功率半导体测试系统的诊断和验证手册。手册详细介绍了如何使用S540诊断软件来验证S540测试系统的正确功能和性能。内容包括诊断过程、用户界面、诊断测试、系统验证和故障排除等。手册强调了安全注意事项，并提供了详细的测试步骤和结果分析。
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S530/S540 KTE版本5.7.0
这份资料是关于Keithley Instruments公司S530/S540 KTE（Keithley Test Environment）软件版本5.7.0的发布说明。主要内容包括：
1. 软件概述：介绍了KTE 5.7.0版本支持新的S540功率半导体测试系统和S530参数测试系统平台，包括所有先前版本的特性和功能，以及额外的错误修复。
2. 支持的固件版本：列出了与KTE 5.7.0兼容的固件版本，包括2636源测量单元（SMU）、707B矩阵、7510数字多用表等。
3. 新增功能：包括支持新的S540功率半导体测试系统、支持高达3kV的C-V用户库、支持电子检索707B矩阵的序列号、增加Chuck Pin Kelvin测试等。
4. 修复的问题：包括解决S530/S540系统关闭时4200-SCS无法正确关闭的问题、修复S530 PrNeedleClean()命令错误、修复LPTLib代码错误导致仪器控制（IC）崩溃等问题。
5. 其他信息：包括KTE版本5.6.0的速度模式、KTE版本5.5.1的增强功能等。
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当代材料科学研究中电学特性测试方案汇编
本资料汇编了当代材料科学研究中电学特性测试方案，涵盖了凝聚态物理、纳米材料、宽禁带材料、电子薄膜材料、绝缘材料等多个领域的测试方法。资料详细介绍了泰克公司提供的测试方案，包括SMU应用要点及选型指南，旨在为材料科学研究提供技术支持。
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使用Keithley系列2290高压电源和2600B系列系统SourceMeter®电源测量高压半导体器件的击穿和泄漏电流
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使用2600B系列系统源简化FET测试Vleter®SMU仪器
本文介绍了使用Tektronix公司（A Tektronix Company）的Series 2600B System SourceMeter SMU仪器简化FET测试的方法。文章强调了FET测试中电流-电压（I-V）参数的重要性，并说明了使用SMU进行测试的优势。详细介绍了Series 2600B SMU的特点，如高分辨率电流测量和电流限制功能。此外，文章还展示了如何使用TSP Express软件工具进行IV测试，包括MOSFET的漏极电流-栅极电压曲线测量。最后，文章总结了Series 2600B SMU在半导体器件表征中的应用。
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从实验室到工厂的可靠性测试信心更高
Keithley Instruments在元器件行业长期处于领先地位，专注于整体参数测试技术和晶圆级可靠性（WLR）测试。其产品线包括多种WLR测试算法库，为设备表征、半导体参数测试和电参数过程监控提供集成硬件和软件解决方案。公司提供多种WLR解决方案，包括快速BTI测试、SMU-per-pin并行系统和定制化系统，旨在提高测试效率和可靠性。产品如4200A-SCS参数分析仪、4200-BTI-A超快解决方案和SMU-per-pin系统等，均支持高功率设备测试、自动化测试和符合JEDEC标准的可靠性测试模块。
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实现当今大功率器件的快速脉冲测量
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Automated Characterization Suite（ACS）基本软件参考手册
本资料为Keithley Instruments公司ACS Basic Automated Characterization Suite软件的参考手册。手册详细介绍了软件的安装、配置和操作方法，包括如何控制外部仪器、设置测试模块、使用脚本编辑器等。手册涵盖了软件的各个功能模块，如图形交互测试模块（ITM）、脚本测试模块（STM）和Python语言测试模块（PTM），并提供了安全注意事项和故障排除指南。
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新型大功率半导体器件将仪器仪表推向极端技术简介
本文探讨了新型高功率半导体器件（如GaN和SiC）对电力电子领域的影响。这些宽禁带半导体材料在效率、功率密度、高温性能和频率响应方面优于传统硅材料，推动了电力电子市场的发展。文章详细介绍了GaN和SiC在电力电子应用中的优势，以及如何通过综合测试来评估这些器件的性能。此外，还讨论了源测量单元（SMU）在测试高功率半导体器件中的应用，包括ON状态和OFF状态的表征，以及如何确保测试的准确性和安全性。
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Keithley机架安装套件选择器指南
本资料为Keithley公司推出的机架安装套件选择指南，详细介绍了不同型号的机架安装套件及其适用范围。包括固定单单元机架套件、固定双单元机架套件、架式机架套件和后部/轨道支撑套件等，适用于多种型号的仪器和设备。资料中提供了详细的型号对照表和适用型号说明，方便用户选择合适的机架安装套件。
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2634B、2635B和2636B型系统源表仪器快速入门指南
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2634B、2635B和2636B型系统源表仪器快速入门指南
本指南为Keithley Instruments Series 2600B系列System SourceMeter®仪器提供快速入门指导，包括安全注意事项、仪器介绍、安装、连接、测试和常见问题解答。指南详细说明了仪器的安全操作、功能、操作步骤以及软件支持，旨在帮助用户快速上手并安全使用该系列仪器。
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Keithley SourceMeter®SMU仪器选型指南
该资料为Keithley SourceMeter® SMU仪器选择指南，详细介绍了不同型号的SMU仪器，包括其功率输出、电流能力、电压能力、电阻范围、基本精度、读取速度、功能总结等关键参数。资料涵盖了从20W至100W的台式SMU仪器，以及100W至200W的系统SMU仪器，还包括低电流SMU仪器。此外，还提供了仪器的接口、数字I/O、测试线缆等详细信息。
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最新产品及测试方案介绍——泰克科技（中国）有限公司
泰克科技（中国）有限公司福迪威简介：泰克科技是一家专业的测试测量仪器及方案供应商，拥有超过70年的行业经验。公司专注于提供高质量的创新产品、卓越的工程技术和全球服务支持。泰克科技在2015年的收入达到32亿美元，毛利率超过20%。公司产品涵盖频谱分析仪、视频测试仪器、示波器、信号发生器、逻辑分析仪等，广泛应用于工业技术领域。泰克科技不断推动技术创新，拥有超过700项专利，致力于为客户提供全面的测试解决方案。
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最新产品及测试方案介绍——泰克科技（中国）有限公司
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使用大功率系统SourceMeter®仪器创建多个SMU系统
本文介绍了使用高功率系统源测量器（SMU）构建多SMU系统的设计和方法。主要内容包括：选择合适的测试设备、连接仪器和被测器件、确保系统安全和仪器保护、优化仪器设置以获得良好的测量结果。文章详细介绍了Keithley的2650A和2600B系列SMU的特点和应用，并提供了具体的测试系统和连接示例。
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2600B系列系统SourceMeter®仪器参考手册
本资料为Keithley Instruments, LLC发布的Series 2600B System SourceMeter®仪器的用户手册。手册详细介绍了仪器的安全注意事项、基本操作、测量功能、编程方法、故障排除以及TSP操作等内容。手册强调了操作人员的安全培训和使用注意事项，并提供了详细的操作步骤和编程示例。
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2600B系列系统SourceMeter®仪器参考手册
本资料为Keithley Instruments公司生产的Series 2600B System SourceMeter®仪器的用户手册。手册详细介绍了仪器的安全注意事项、操作步骤、功能特性、编程方法等。内容包括：安全操作指导、仪器基本操作、功能与特性、理论操作原理、TSP操作介绍、编程基础等。手册旨在帮助用户正确使用和维护仪器，确保操作安全与数据准确。
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