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触摸,测试,发明®…与新一代电流和电压源/测量仪器从凯斯利!
2017/12/22 - 测试报告 Keithley推出新一代电流电压源/测量仪器,具备触摸屏界面,提供快速准确测试结果。产品包括触摸屏源测量单元(如2450和2460型号)和非触摸屏源测量单元(如2400系列),适用于不同电流电压范围和功率需求。此外,2600B系列源测量单元适用于系统级测试,具有高速脉冲和双通道模式。高功率半导体特性分析方面,2657A和2651A型号提供高电流和电压测量。S500集成测试系统适用于半导体器件、晶圆或卡匣级别的特性分析。4200-SCS半导体参数分析仪和S530/S500系统提供全面的电学特性分析和晶圆/器件测试解决方案。
TEKTRONIX - 6430,2657A,2601B,2635B,2611B,2430,2450,2600-PCT-4B,2600-PCT-2B,2425,2401,2400,2420,2614B,2636B,2604B,2612B,2634B,2602B,2440,2460,2600-PCT-3B,2600-PCT-1B,2410,2651A
比以往任何时候都更全面、更实惠的测量工具。
2017/12/29 - 技术文档 Keithley公司推出一系列源测量单元(SMU)仪器,提供高达10%的折扣。这些仪器包括2400系列、2600B系列和2650A系列,适用于高精度I-V特性测试、高吞吐量I-V应用和功率半导体脉冲I-V特性测试。折扣活动从2014年9月15日持续至11月28日,适用于美国和加拿大市场。
TEKTRONIX - 2614B,2636B,2657A,2604B,2601B,2612B,2634B,2602B,2635B,2600B,2611B,2430,2440,2450,2460,2425,2401,2400,2410,2420,2651A,2650A
ACS基础版半导体元件和分立器件参数测试软件数据表
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先进的科学研究,尖端的测试测量
8 JUNE 2016 - 测试报告
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S530/S540 KTE版本5.7.0
September 2017 - 应用笔记或设计指南 这份资料是关于Keithley Instruments公司S530/S540 KTE(Keithley Test Environment)软件版本5.7.0的发布说明。主要内容包括: 1. 软件概述:介绍了KTE 5.7.0版本支持新的S540功率半导体测试系统和S530参数测试系统平台,包括所有先前版本的特性和功能,以及额外的错误修复。 2. 支持的固件版本:列出了与KTE 5.7.0兼容的固件版本,包括2636源测量单元(SMU)、707B矩阵、7510数字多用表等。 3. 新增功能:包括支持新的S540功率半导体测试系统、支持高达3kV的C-V用户库、支持电子检索707B矩阵的序列号、增加Chuck Pin Kelvin测试等。 4. 修复的问题:包括解决S530/S540系统关闭时4200-SCS无法正确关闭的问题、修复S530 PrNeedleClean()命令错误、修复LPTLib代码错误导致仪器控制(IC)崩溃等问题。 5. 其他信息:包括KTE版本5.6.0的速度模式、KTE版本5.5.1的增强功能等。
TEKTRONIX - 2636B,2657A,4200-SCS,2636A,7510,HVM1212,2410,S540,S530,707B
工程师的测试与测量解决方案产品目录
02.2018 - 选型指南 本资料主要介绍了Tektronix公司提供的测试与测量解决方案,涵盖了多种测试仪器和软件,包括示波器、频谱分析仪、电源、电子负载、信号发生器、数字多用表、逻辑分析仪、误码率测试仪、电源分析仪、矢量网络分析仪等。资料详细介绍了各产品的技术规格、应用领域和功能特点,旨在帮助工程师选择合适的测试工具,提高工作效率和产品开发速度。
TEKTRONIX - SINGLE-CHANNEL POWER SUPPLY,VOLTAGE SOURCES,混合信号示波器,相干接收机,电池供电示波器,薄型示波器,TDS系列示波器,OSCILLOSCOPE PROBES,SEMICONDUCTOR TEST SYSTEMS,DATA ACQUISITION SYSTEMS,矢量网络分析仪,SYSTEM DIGITAL MULTIMETER,开关功率半导体测试系统,PARAMETER ANALYZER,无源探测器,频率计数器,电流探头,逻辑分析仪,LOW VOLTAGE DIFFERENTIAL PROBES,混合域示波器,功率分析仪,LOW VOLTAGE SINGLE-ENDED PROBES,电压源,参数分析器,CURRENT PROBES,USB SPECTRUM ANALYZERS,NANOVOLTMETER,GRAPHICAL SAMPLING MULTIMETER,MIXED SIGNAL OSCILLOSCOPES,REAL-TIME SPECTRUM ANALYZER,OSCILLOSCOPES,取样示波器,数据采集系统,ADVANCED SIGNAL ANALYSIS OSCILLOSCOPES,GRAPHICAL POTENTIONSTATS,半导体测试系统,COHERENT RECEIVER,SIGNAL GENERATORS,DC ELECTRONIC LOADS,讯号产生器,图形电位统计,皮安计,频率计时器,ELECTROMETERS,当前来源,ISOLATED PROBES,基本示波器,CURRENT SOURCES,光谱分析仪,PARAMETRIC CURVE TRACER,源测量(SMU)仪器,BIT ERROR RATE TESTERS,VECTOR NETWORK ANALYZERS,高压差分探头,系统数字万用表,LOGIC ANALYZERS,超灵敏测量仪器,SAMPLING OSCILLOSCOPES,纳伏表,SWITCH POWER SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM,ULTRA-SENSITIVE MEASUREMENT INSTRUMENTS,TDS SERIES OSCILLOSCOPES,HIGH VOLTAGE DIFFERENTIAL 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2020年4月 - 应用及方案 本资料汇编了当代材料科学研究中电学特性测试方案,涵盖了凝聚态物理、纳米材料、宽禁带材料、电子薄膜材料、绝缘材料等多个领域的测试方法。资料详细介绍了泰克公司提供的测试方案,包括SMU应用要点及选型指南,旨在为材料科学研究提供技术支持。
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