AOS Semiconductor Product Reliability Report AOC2401,revC
发布时间：
2018-08-02
类型：
测试报告，认证报告、性能测试报告
品牌：
AOS
型号：
AOC2401; JESD22-A108; JESD22-A103; JESD22-A104; JESD22-A113; JESD22-A101; JESD22-A102
本产品可靠性报告详细总结了AOS半导体公司AOC2401器件的测试结果与质量评估。报告内容涵盖加速环境测试及最终电测试，具体包括高温高湿存储（HTGB）、高温高湿（HTRB）以及高温存储寿命（HTSL）等关键项目。测试结果显示，AOC2401完全符合AOS的质量和可靠性标准，所有测试项目均未出现故障。基于故障率评估数据，该产品每亿个产品中的故障次数（FIT）不超过15，平均无故障时间（MTTF）不低于7610年，体现了极高的产品稳定性。此外，该产品将按工艺家族分类进行持续监控，以进一步提升产品质量。针对文中所述器件，AOS在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。用户可通过平台获取原厂授权的正品器件，相关型号支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足。平台专职FAE团队提供从选型、设计验证到调试的全流程技术支持，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
资料下载
资料平台
| 数据手册 - 英文 |
AOC2401 30V P沟道MOSFET
Rev.1.0
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2806，版次B
revB
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| 封装信息/封装结构图 - 英文 |
AOC2401标记说明
Version B
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC3864，B版
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2804，版次B
revB
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC3862，B版
revB
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC3860，版次B
revB
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2870，版次B
revB
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC3868，B版
revB
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2800，版次B
revB
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2422，revC
revC
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2411，B版
revB
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2423，revC
revC
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2417，revC
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2403，版次B
revB
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2412，revC
revC
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC4810，revC
revC
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2413，B版
revB
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2421，修订版
revB
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2414，revC
revC
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2804B，版次B
revB
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2415，revC
revC
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOI538，A版塑料封装器件
rev A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOD464，D版塑料封装器件
rev D
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOB15B65M1，A版塑料封装器件
rev A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON7510，A版塑料封装器件
rev A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON7758，A版塑料封装器件
rev A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON7292，A版塑料封装器件
rev A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON7760，A版塑料封装器件
rev A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON7536，A版塑料封装器件
rev A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOI2N60A，A版塑料封装器件
rev A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOD5B65M1，A版塑料封装器件
rev A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOD3N80，A版塑料封装器件
REV.A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOD442，D版塑料封装器件
rev D
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON7440，A版塑料封装器件
rev A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOD538，A版塑料封装器件
rev A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOB410L，A版塑料封装器件
rev A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOB2904，revA塑料封装器件
rev A
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AOS半导体产品可靠性报告 AOB20C60PL，revB 塑封器件 ALPHA & OMEGA Semiconductor, Inc
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告 AOB256L,revB 塑封器件 ALPHA & OMEGA Semiconductor, Inc
revB
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOB288L，revB塑料封装器件
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AOS半导体产品可靠性报告AOB15S60，revB塑料封装器件
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AO3453，revA塑料封装器件
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AO3452，revA塑料封装器件
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AO3494，revA塑料封装器件
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AO3459，revA塑料封装器件
revA
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOB290L，revB塑料封装器件
rev B
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOB11S60，revA塑料封装器件
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AOS半导体产品可靠性报告 AOB20B65M1，revA 塑封器件 ALPHA & OMEGA Semiconductor, Inc
revA
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AOS半导体产品可靠性报告AOB5B65M1，revB塑料封装器件
rev B
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