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AOS - P通道MOSFET晶体管,P-CHANNEL MOSFET,AOC2401
AOS半导体产品可靠性报告AOC3860，版次B
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AOS半导体产品可靠性报告AOC2870，版次B
Nov. 2017 - 测试报告 本报告总结了AOS半导体公司AOC2870产品的可靠性测试结果。报告详细列出了各种加速环境测试项目，如高温高湿（HTGB）、高温高湿存储（HTRB）、高温存储寿命（HTSL）等，所有测试均未出现故障。最终电测试结果确认AOC2870符合AOS的质量和可靠性要求。产品将按工艺家族分类，并持续监控以提升产品质量。可靠性数据表明，AOC2870的故障率（FIT率）小于等于15，平均无故障时间（MTTF）大于等于7610年。
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AOS半导体产品可靠性报告AOC3868，B版
Nov. 2017 - 测试报告 本报告总结了AOS Semiconductor公司AOC3868产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了加速环境测试和电性能测试，确认AOC3868产品符合AOS的质量和可靠性要求。产品将按工艺家族分类，并持续监控以提升产品质量。测试项目包括高温高湿存储、高温高湿偏压、高温存储寿命、预条件测试、高湿偏压、高压蒸汽和温度循环等，所有测试均未出现故障。故障率评估显示，每亿个产品中故障率不超过15，平均无故障时间（MTTF）不低于7610年。
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AOS半导体产品可靠性报告AOC2804，版次B
Nov. 2017 - 测试报告 本报告总结了AOS半导体公司AOC2804产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了加速环境测试和电性能测试，确认AOC2804符合AOS的质量和可靠性要求。产品将按工艺家族分类，并常规监控以持续提升产品质量。测试项目包括高温高湿存储（HTGB）、高温高湿偏置（HTRB）、高温存储寿命（HTSL）等，所有测试均未出现故障。故障率评估显示，每亿个产品中故障次数（FIT）小于等于15，平均无故障时间（MTTF）大于等于7610年。
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Nov. 2017 - 测试报告 本报告概述了AOS Semiconductor公司AOC3862产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了各种加速环境测试，包括高温高湿、高温存储、高温循环等，以及最终电性能测试。所有测试均符合AOS质量与可靠性要求，产品将按工艺家族分类并持续监控以提升产品质量。测试结果显示，AOC3862的失效率为每十亿个产品中不超过15个，平均无故障时间（MTTF）不低于7610年。
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Nov. 2017 - 测试报告 本报告总结了AOS半导体公司AOC2806产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了加速环境测试和最终电测试，确认AOC2806符合AOS的质量和可靠性要求。产品将按工艺家族分类，并定期监控以持续提升产品质量。测试项目包括高温高湿存储（HTGB）、高温高湿（HTRB）、高温存储寿命（HTSL）等，所有测试均未出现故障。故障率评估显示，每亿个产品中故障次数（FIT）小于等于15，平均无故障时间（MTTF）大于等于7610年。
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Nov. 2017 - 测试报告 本报告总结了AOS半导体公司AOC2421产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了加速环境测试和电性能测试，确认AOC2421符合AOS的质量和可靠性要求。产品将按工艺家族分类，并持续监控以提升产品质量。测试项目包括高温高湿存储（HTGB）、高温高湿（HTRB）、高温存储寿命（HTSL）等，所有测试均未出现故障。故障率评估显示，每亿个产品中故障次数不超过15次，平均无故障时间（MTTF）不低于7610年。
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Nov. 2017 - 测试报告 本报告总结了AOS半导体公司AOC2413产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了加速环境测试和最终电测试，确认AOC2413符合AOS的质量和可靠性要求。产品将按工艺家族分类，并持续监控以提升产品质量。测试项目包括高温高湿存储（HTGB）、高温高湿（HTRB）、高温存储寿命（HTSL）等，所有测试均未出现故障。故障率评估显示，每亿个产品中故障率不超过15，平均无故障时间（MTTF）不低于7610年。
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AOS半导体产品可靠性报告AOC2414，revC
Nov. 2017 - 测试报告 本报告总结了AOS半导体公司AOC2414产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了加速环境测试和最终电气测试，确认AOC2414符合AOS的质量和可靠性要求。产品将按工艺家族分类，并持续监控以提升产品质量。测试项目包括高温高湿存储（HTGB）、高温高湿（HTRB）、高温存储寿命（HTSL）等，所有测试均未出现故障。故障率评估显示，每亿个产品中故障率不超过15，平均无故障时间（MTTF）不低于7610年。
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Nov. 2017 - 测试报告 本报告总结了AOS半导体公司AOC2804B产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了加速环境测试和电性能测试，确认产品符合AOS的质量和可靠性要求。产品将按工艺家族分类，并持续监控以提升产品质量。测试项目包括高温高湿、高温高阻、高温存储、预处理、高湿阻性、高压蒸汽和温度循环等，所有测试均未出现故障。故障率评估显示，每亿个产品中故障次数不超过15次，平均无故障时间大于7610年。
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Nov. 2017 - 测试报告 本报告概述了AOS半导体公司AOC2415产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了加速环境测试和最终电气测试，确认AOC2415符合AOS的质量和可靠性要求。产品将按工艺家族分类，并持续监控以提升产品质量。测试项目包括高温高湿存储、高温高湿偏压、高温存储寿命、预老化、高温高湿偏压、蒸汽消毒和温度循环等，所有测试均未出现故障。故障率评估显示，每亿个产品中故障率不超过15，平均无故障时间（MTTF）不低于7610年。
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Nov. 2017 - 测试报告 本报告总结了AOS半导体公司AOC2423产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了包括高温高湿（HTGB）、高温高湿存储（HTRB）、高温存储寿命（HTSL）等在内的多种加速环境测试，以及最终电性能测试。所有测试均符合AOS的质量和可靠性要求。产品将按工艺家族分类，并持续监控以提升产品质量。可靠性数据表明，该产品的故障率（FIT）低于15，平均无故障时间（MTTF）超过7610年。
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Nov. 2017 - 测试报告 本报告总结了AOS半导体公司AOC2411产品的可靠性测试结果。报告详细介绍了加速环境测试和电性能测试，确认AOC2411符合AOS的质量和可靠性要求。产品将按工艺家族分类，并持续监控以提升产品质量。报告还包括了可靠性应力测试的总结和结果，如高温高湿测试、温度循环测试等，所有测试均未出现故障。此外，还提供了故障率评估，包括FIT率和MTTF。
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