AOS Semiconductor Product Reliability Report AOC3862,revB
发布时间：
2018-08-02
类型：
测试报告，认证报告、性能测试报告
品牌：
AOS
型号：
AOC3862; JESD22-A108; JESD22-A103; JESD22-A113; JESD22-A101; JESD22-A102; JESD22-A104
本产品可靠性报告详细阐述了AOS Semiconductor公司AOC3862器件的测试结果与质量标准。报告内容涵盖了高温高湿、高温存储、高温循环等多种加速环境测试，以及最终的电性能测试。测试数据表明，该产品完全符合AOS的质量与可靠性要求，失效率控制在每十亿个产品中不超过15个，平均无故障时间（MTTF）不低于7610年。此外，产品将按工艺家族分类并接受持续监控，以进一步优化产品质量。AOS在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该报告所展示的可靠性，用户可通过平台获取原厂授权的正品器件，相关型号支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足。平台专职FAE团队可提供从选型、设计验证到调试的全流程技术支持，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
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资料平台
| 数据手册 - 英文 |
AOC3862 12V共漏双N沟道MOSFET
Rev.1.0
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC3864，B版
revB
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| 封装信息/封装结构图 - 英文 |
AOC3862标记说明
Version A
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| 技术文档 - 英文 |
阿尔法和欧米茄半导体更绿色的未来™
2018/11/13
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2804，版次B
revB
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC3860，版次B
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2870，版次B
revB
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC3868，B版
revB
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2403，版次B
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2401，revC
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2412，revC
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC4810，revC
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2413，B版
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2421，修订版
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2414，revC
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2804B，版次B
revB
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2415，revC
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2806，版次B
revB
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOI2N60A，A版塑料封装器件
rev A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOD5B65M1，A版塑料封装器件
rev A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2423，revC
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2422，revC
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2411，B版
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2800，版次B
revB
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOC2417，revC
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOD3N80，A版塑料封装器件
REV.A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOD442，D版塑料封装器件
rev D
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON7440，A版塑料封装器件
rev A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOD538，A版塑料封装器件
rev A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOB410L，A版塑料封装器件
rev A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOB15B65M1，A版塑料封装器件
rev A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON7758，A版塑料封装器件
rev A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON7510，A版塑料封装器件
rev A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOI538，A版塑料封装器件
rev A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOD464，D版塑料封装器件
rev D
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON7292，A版塑料封装器件
rev A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON7760，A版塑料封装器件
rev A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON7536，A版塑料封装器件
rev A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON6578，版次A
revA
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON6240，revB塑料封装器件
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告 AOB254L，版本B 塑封器件 ALPHA & OMEGA Semiconductor, Inc
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOB10T60P，revB塑料封装器件
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOB12T60P，revB塑料封装器件
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AO3438，revB塑料封装器件
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AO3493，revA塑料封装器件
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AO3407A，revD塑料封装器件
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AOS半导体产品可靠性报告AO3434A，revC塑料封装器件
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AO3457，revA塑料封装器件
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOB10B65M1，revB塑料封装器件
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AOS半导体产品可靠性报告 AOB27S60,revA 塑封器件 ALPHA & OMEGA Semiconductor, Inc
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