Nanotechnology Measurement Handbook A Guide to Electrical Measurements for Nanoscience Applications
发布时间：
2018-08-03
类型：
应用及方案，参考设计、解决方案、应用指南
品牌：
TEKTRONIX
型号：
4200-SCS; 3401; 3402; 4200-PG2; 4200-PIV; 2520; 6221; 2182A; 2601; 2602; 2611; 2612; 2430; 2001; 2002; 2010; 2750; 2400-C; 2400; 2400-LV; 2410; 2410 -C; 2420; 2420-C; 2425; 2425-C; 2430-C; 2440; 2440-C; 6430; 4500-MTS; 428-pRoG; 6485; 6487; 2502; 6514; 6517A; 6220; 248
资料平台
| 数据手册 - 中文 |
6220型 6221型直流电流源 交流和直流电流源
2019/03/30
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| 测试报告 - 英文 |
探索材料科学或设备开发的边界？学习确保电气测量精度的最新技术
REV 08.31.10
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| 测试报告 - 英文 |
探索材料科学或设备开发的边界？学习确保电气测量精度的最新技术
9.13
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| 数据手册 - 英文 |
4205-PG2双通道脉冲发生器
2018/07/02
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| 技术文档 - 英文 |
用于高速研发和功能测试的可扩展解决方案系列2600 System SourceMeter®多通道I-V测试仪器
2017/12/27
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| 数据手册 - 英文 |
4200-SCS型半导体表征系统复杂表征任务的简单选择
2017/12/21
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| 测试报告 - 英文 |
提高测量速度和整体测试提高测量速度和整体测试提高模型速度和整体测试时间
2017/12/21
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| 技术文档 - 英文 |
3401/3402型脉冲模式发生器规范
Rev. B
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| 数据手册 - 英文 |
如何选择和应用源/测量仪器（源表）
2.14.13
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| 测试报告 - 英文 |
激光二极管多通道脉冲测试系统
2017/12/21
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| 技术文档 - 英文 |
用于设备测试和特性描述的精密低电流源型号6220直流电流源型号6221交流和直流电流源
2017/12/22
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| 数据手册 - 英文 |
25202520脉冲激光二极管测试系统数据表系统数据表
2019/12/09
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| 测试报告 - 英文 |
激光二极管的脉冲测试
2017/12/21
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| 技术文档 - 英文 |
直流电流源交直流电流源
2017/12/21
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| 数据手册 - 英文 |
7168 8通道，2极纳伏扫描卡
2011/12/21
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| 测试报告 - 英文 |
综合测试系统
2017/12/21
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| 数据手册 - 英文 |
4200-MAG-BASE、VAC-BASE和4225-RPM型探头站安装底座安装说明
Rev. B
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| 测试报告 - 英文 |
先进的科学研究，尖端的测试测量
8 JUNE 2016
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| 数据手册 - 英文 |
2657A高功率System SourceMeter®SMU仪器
2021/07/05
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| 测试报告 - 英文 |
2600系列系统源表多通道I-V测试解决方案
Rev.708
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| 技术文档 - 英文 |
哪种Keithley纳米技术解决方案最适合您的采购或测量应用？
2017/12/27
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| 数据手册 - 英文 |
4200-SCS参数分析仪技术数据
Rev. O
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| 数据手册 - 英文 |
4200-SCS型半导体表征系统解密和安全说明
v121515
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| 技术文档 - 英文 |
2600-FIX-TRX型接地Phoenix至Triax电缆分机
Rev. B
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| 数据手册 - 英文 |
4200-BTI-4200-SCS型超快NBTI/PBTI封装
2018/07/02
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| 数据手册 - 英文 |
7174A高速低漏电流矩阵8×12
2013/2/23
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| 技术文档 - 英文 |
纳伏表
2017/12/21
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| 数据手册 - 英文 |
3400系列信号发生器
2018/07/02
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| 数据手册 - 英文 |
2600B-PM-1型200 V保护模块，带1 A夹钳
April 2015
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| 技术文档 - 英文 |
2182A型纳伏表仪器规范
Rev. F
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| 数据手册 - 英文 |
7072-HV高压半导体矩阵卡8×12
2013/7/13
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| 技术文档 - 英文 |
纳米尺度电接触电阻测量新技术
02.05.09
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| 数据手册 - 英文 |
4299-7型固定机架安装套件装配和安装说明
Rev. D
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交直流电流源仪表规范
Rev. C
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型号4299-1单单元可调重型机架安装套件
Rev. B
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型号4299-2通用双单元可调重型机架安装套件
Rev. C
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
keithley选择器导向功能/脉冲/任意/模式发生器
本资料为元器件行业中的函数/脉冲/任意波形/图案发生器产品选型指南。内容包括不同型号产品的描述、功能特点、电压脉冲、电流脉冲、脉冲宽度、电压源、电流源、图案模式以及集成测量等参数对比。涉及产品包括EPSON、Silicon Labs等品牌。
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微小电阻测试方案 泰克 TSP-2000-ULR (6220/6221 + 2182A ) 测试方案
本文介绍了吉时利微电子半导体行业方案中的微小电阻测试方案。该方案采用泰克TSP-2000-ULR测试系统，包括622X电流源和2182A纳伏表，提供高达10nW的电阻测试分辨率。方案特点包括高电阻测试分辨率、大测试量程、交钥匙方案设计，并提供完整的测试夹具方案和上位机数据采集处理软件。系统主要由622X高精度电流源、2182A纳伏表、测试夹具、转接盒和上位机软件构成，支持多种测试模式，如R-T功能、电流扫描测试、Delta Mode等。
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吉时利经典测试测量和行业解决方案
吉时利提供的测试测量和行业解决方案广泛应用于半导体和材料领域。其设备可用于二极管、晶体管、IGBT等大功率器件的测试，以及光电材料、纳米材料和电化学材料的分析。此外，吉时利还提供数据采集、电源测试和低功耗测试等解决方案，适用于半导体、材料和电源设计。产品线包括2400、2450、2600B、2650A等系列SMU仪器，以及4200-SCS半导体参数分析仪等。
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吉时利经典测试测量和行业解决方案
本文介绍了吉时利公司在测试测量领域的领先地位，包括其历史、产品和技术。文章重点介绍了吉时利的源测量单元（SMU）和低电阻测量技术，以及其在光电材料、纳米材料和半导体等领域的应用。此外，还介绍了吉时利的静电计和高输入阻抗电压测量技术，以及相关产品和应用案例。
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吉时利经典测试测量和行业解决方案
吉时利提供的测试测量和行业解决方案专注于精度和速度，主要应用于半导体材料、光电材料、DC-DC转换器、纳米材料、IGBT等大功率器件以及电化学领域。其产品包括多种型号的源表测量单元（SMU）、数据采集系统、电源和连接器等，能够满足不同测试需求。此外，吉时利还提供针对LED、太阳能电池、纳米材料、霍尔效应、电化学材料等领域的测试解决方案。
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纳米技术测量手册纳米科学应用的电测量指南
本资料主要介绍了纳米技术测量中的低级测量技术，包括测量误差的来源、降低误差的方法、测量系统配置以及不同测量方法的应用。内容涵盖了外部漏电流、接地和屏蔽、噪声、建立时间、系统漏电流、额外电流误差等方面，并举例说明了在纳米电子和分子电子设备上的低电流测量实例。此外，还讨论了低功耗纳米技术和敏感设备的AC与DC测量方法，包括锁相放大器和DC反转测量技术，以及这些技术在低电阻、高电阻和中电阻测量中的应用。
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用2600系列数字源表进行I-DDQ测试和待机电流测试
本文介绍了使用2600系列数字源表进行CMOS集成电路的IDDQ测试和待机电流测试。文章详细阐述了IDDQ测试的目的、测试设置、测试过程以及如何使用2600系列源表进行高效测试。同时，还介绍了待机电流测试的设置和实施方法，以及如何通过测试确保电池供电产品的性能。文章强调了测试速度和准确度的重要性，并提供了测试脚本实例，以帮助读者更好地理解和应用测试技术。
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当代材料科学研究中电学特性测试方案汇编
本资料汇编了当代材料科学研究中电学特性测试方案，涵盖了凝聚态物理、纳米材料、宽禁带材料、电子薄膜材料、绝缘材料等多个领域的测试方法。资料详细介绍了泰克公司提供的测试方案，包括SMU应用要点及选型指南，旨在为材料科学研究提供技术支持。
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半导体材料与器件科学云讲堂——二维材料/石墨烯及其电子器件IV和CV测试
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半导体材料与器件科学云讲堂--二维材料/石墨烯及其电子器件IV和CV测试
本次云讲堂由半导体领域测试专家王瑞恒主讲，内容涵盖二维材料/石墨烯及其电子器件的IV和CV测试方法。讲座介绍了二维/石墨烯材料的四探针测试和霍尔效应测试，以及二维MOSFET器件的电性能测试。此外，还探讨了高性价比和高性能测试方案，并针对石墨烯电子器件的测试挑战提出了相应的解决方案。
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Keithley电化学测试仪器方法及应用
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4200-SCS半导体表征系统快速入门指南
本指南为4200-SCS半导体表征系统提供快速入门指导，涵盖系统准备、测试设计、执行和结果查看等关键步骤。指南详细介绍了软件和硬件功能，包括KITE界面、项目导航器、交互式测试模块（ITMs）和用户测试模块（UTMs）。此外，还提供了数据文件管理、软件和用户文件保护等方面的信息。
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Keithley机架安装套件选择器指南
本资料为Keithley公司推出的机架安装套件选择指南，详细介绍了不同型号的机架安装套件及其适用范围。包括固定单单元机架套件、固定双单元机架套件、架式机架套件和后部/轨道支撑套件等，适用于多种型号的仪器和设备。资料中提供了详细的型号对照表和适用型号说明，方便用户选择合适的机架安装套件。
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采用2602型源表进行高吞吐量激光二极管模组和VCSEL直流生产测试
本文详细介绍了使用2602型源表进行高吞吐量激光二极管模组和VCSEL直流生产测试的方法。文章重点讨论了激光二极管和VCSEL的测试策略，包括正向电压测试、阈值电流测试、背光探测器测试、拐点测试/线性度测试、光强度测量和光功率测量等。此外，还介绍了如何通过LIV测试扫描进行快速且经济的直流特性测量，以及如何使用2602型源表和2510-AT型自动温度控制源表进行晶圆级测试。文章还涉及了测试系统配置、测试序列、数据返回、温度控制、漏电流测试、热敏电阻测试、调制输入、多器件测试、电缆优化、误差来源和设备清单等内容。
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