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DS1726产品可靠性报告
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温度传感器和单线器件的封装热阻值（θJA，θJC）
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DS1721 2-Wire Digital Thermometer and Thermostat
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DS1626产品可靠性报告
12/19/2008 - 测试报告 本报告为Maxim Integrated Products公司DS1626元器件的可靠性报告，内容包括产品描述、可靠性评估方法、电气特性测试、操作寿命测试、耐久性和数据保持测试等。报告详细介绍了产品的可靠性数据，包括失效率、平均无故障时间等，并确保产品符合质量与可靠性标准。
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DS1721数字温度传感器与DS1621应用说明127的反向兼容性
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DS1720 ECON-Digital Thermometer and Thermostat
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DS1086L达拉斯0.6μm硅栅CMOS MAXIM集成产品可靠性监测报告
5/9/2009 - 测试报告 本报告为Maxim Integrated Products的可靠性监控报告，针对Dallas 0.6µm硅栅CMOS工艺生产的多种产品进行可靠性测试。报告内容包括产品列表、失效率、MTTF（平均无故障时间）、FITS（失效间隔时间）等关键参数。此外，报告详细列出了不同产品在不同应力条件下的可靠性数据，包括高温操作寿命、存储寿命、温度循环、温度湿度偏置、非偏置湿度电阻、写入周期耐久性和数据保持等。
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DS1620 Digital Thermometer and Thermostat
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达拉斯0.6μm硅栅CMOS（E6）可靠性监测报告
10/20/2009 - 测试报告 本报告为Maxim Integrated Products的可靠性监控报告，针对Dallas 0.6µm硅栅CMOS工艺（E6）的多个产品进行可靠性测试。报告内容包括数据保留、操作寿命、存储寿命、温度循环、温度湿度偏置、无偏湿度阻力和写循环耐久性等测试结果。结果显示，该工艺产品的平均无故障时间（MTTF）为53185年，总数量为1330个，其中1个产品发生故障。
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