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5,17 - 测试报告 本报告详细介绍了Microsemi公司RTG4 FPGA产品在PCI Express Gen1标准下的全面测试和验证过程。报告涵盖了电气测试、配置空间测试、链路和事务协议测试等方面，以确保RTG4 PCIe解决方案的合规性和性能。测试结果证明了RTG4 PCIe解决方案的高可靠性和稳定性，适用于各种PCI Express系统。
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FlashPro软件支持的Microsemi产品停用通知
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4/19 - 产品勘误说明 本资料为Microsemi公司关于RTG4 FPGA的Errata文档，详细列出了该系列FPGA中存在的各种问题及其解决方案。文档涵盖了从工程样品到生产样品的不同版本，并对每个问题提供了相应的解决方法或工作绕过。内容包括但不限于SPI编程接口不支持、VPP上升时间要求、SpaceWire引脚可用性、I/O频率和驱动强度限制、PLL输出频率问题、SmartDebug功能限制、PCIe配置支持、I/O状态编程模式不匹配、双端口RAM读写数据不匹配、边界扫描或编程期间电流异常、特定引脚连接要求、异步复位、LSRAM读写模式移除、非流水线ECC配置不支持、SmartDebug数据损坏预防、流水线ECC LSRAM数据输出错误、TMR-PLL锁定问题、PLL高温锁定稳定性问题、DDR接口支持描述错误、VREF引脚配置限制等。
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MICROSEMI - RT4G150L1CG1657B,RT4G150,RTG4
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