如何进行DTM测试？
一．DTM测试上位机工具官方获取路径：DTM上位机工具
二．DTM测试固件修改，打开SDK目录下projects\ble\dtm\direct_test_mode工程，在custom_config.h与board_SK.h中确认如下配置项与需要测试的板子硬件是否对齐，不一致需要进行修改后再编译：
2．1.1V内核供电方式（仅GR533x支持，其它芯片忽略）：
3．低速32K时钟源选择，有外部32K晶振配0，没有配需要配1：
4. PA配置（仅GR5332且发射功率要求大于5db时需要修改默认配置）：
5. 修改DTM测试串口通信PIN（board_SK.h）,确认默认通信PIN与测试板是否对齐，如果不对齐需要根据实际PIN做对应修改：
三．DTM测试固件编译完需要用GProgrammer下载到测试板芯片中；
1. GProgrammer工具下载路径： GProgrammer工具
2. GProgrammer工具使用文档下载路径： GProgrammer工具文档
注意：这里的固件下载口不管是用串口还是SWD都是接GPIO0、GPIO1，与上面编译的DTM测试固件配的串口没有关系。
四．将PC的USB转串口连接至测试板并供上电（串口接DTM固件中配置的PIN），打开DTM上位机工具，如下图选择芯片与对应的串口再点OpenUart按钮；
1. 如果左下角提示No ack !, 说明PC工具与测试板通信不成功；
2. 如下点完OpenUart左下角提示如下，说明通信成功；
五．确认板子晶体是否有做过校准（测试前需要先进行校准），连接成功后点Private -> Read(xo_register)，如果读到的值为0x0100则此板子没有做过校准；
校准方法: 一是通过生产工具进行校准，如PLT或PLT-Lite; 也可以在如下界面手动校准，可以先调整xo_register的值点Write, 之后在综测仪或频谱仪查看单载波的输出频率，频率调至最佳后再将此值复制到右边的xo_efuse点Write；
PS：xo_efuse只能写一次，写之前建议先在xo_register确认好。
六．DTM测试详细文档参考：“Bluetooth_Low_Energy_DTM测试软件使用说明_V0.x.pdf”或CMW500半自动DTM测试指南.pdf
文档获取链接：DTM测试参考文档
七．常见问题
1．PC工具与测试板串口通信不成功（提示No ack !）：
a. 32K晶振配置不对固件没有跑起来；
b. 串口线连接错误，可以交换TX与RX验证；
c. 串口通信电平不匹配，例如测试板串口是3.3V，USB转串口小板是1.8V，可以偿试修改串口板的电平跳冒进行验证；
d. 测试板供电异常，确认测试板电源及地线连接是否有问题；
e. 串口连接的PIN与软件配置的PIN不是同一个或者软件配置错误，例如PINMUX、UART_ID没有修改正确；
2．单载波或调制波无输出：
a. 当前工具不支持直接在Public(调制波)与Private(单载波)进行切换，如需要切换建议测试板重新上电再连接下发命令；
3．发射功率或接收灵敏度不达标：
a. 确认RF匹配电路是否是GOODIX推荐的参考电路及参数，如果不是建议先换回参考匹配电路或参数确认是否是修改导致；
b. 测量DCDC1.1V及VBAT_RF纹波是否在要求范围内（规格可参考Datasheet），超过Datasheet范围对发射功率和灵敏度都会存在影响；
c. 检查DCDC电路9.1nH电感是否有贴，此电感作用是滤高频，不贴直接短路会对灵敏度有影响；
d. 检查PCB是否有按硬件设计指南要求布局和走线，电源部分地线回流阻抗尽量小，例如10uF主滤波电容的地、芯片电源地、DCDC2.2μF的地三个连接尽量短铜皮尽量宽；RF匹配电路地线到芯片E-PAD阻抗尽量小；
e. 检查RF同轴线是否有问题，可以更换新的进行验证；还有同轴线地的焊接位置要在RF匹配电路的地附近，地线焊接位置不合理也会影响测试结果；
4．边带杂散测试不过：
a. 如下Station在边带杂散测试时需要配置为High；
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本文由Vicky转载自汇顶科技 官网，原文标题为:DTM测试指南，本站所有转载文章系出于传递更多信息之目的，且明确注明来源，不希望被转载的媒体或个人可与我们联系，我们将立即进行删除处理。
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产品型号
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品类
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蓝牙标准
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CPU
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RAM
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Flash
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I/O数量
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封装
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尺寸
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工作温度
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GR5525RGNI
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蓝牙芯片
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5.3
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品类
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AP Core
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RAM
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Flash
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晶体
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Package
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GR8513JMNIN
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NB-IoT系列芯片(SoC)
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Cortex M4F
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2.0V~4.35V
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